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Leading線陣相機(jī) 深度制冷短波紅外相機(jī) Leading640短波紅外相機(jī) Leading320短波紅外相機(jī) 1550nm激光光斑跟蹤相機(jī)

高幀頻1000FPS-EMCCD 深度制冷CCD-風(fēng)冷結(jié)構(gòu) 超高幀頻制冷CCD 深度制冷短波紅外SWIR相機(jī) 科學(xué)級(jí)深度制冷X-Ray相機(jī) SWIR短波紅外相機(jī) 高分辨率深度制冷CCD相機(jī) 高靈敏度EMCCD相機(jī) 高分辨率EMCCD相機(jī) 高幀頻電子倍增CCD相機(jī)

線陣短波InGaAs探測(cè)器 320×256InGaAs探測(cè)器

便攜式紅外發(fā)射率測(cè)量?jī)x 數(shù)字紅外輻射計(jì)

ID230單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測(cè)器 ID Qube NIR Gated紅外單光子探測(cè)器 ID220單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器 ID120單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID100單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID101OEM可見光光子計(jì)數(shù)器 ID900時(shí)間控制器 ID300短脈沖激光源

LWIR長(zhǎng)波高光譜相機(jī) MWIR中波高光譜相機(jī) SWIR短波紅外高光譜相機(jī) NIR近紅外高光譜相機(jī) 可見光-近紅外高光譜相機(jī)

SI-1600S大靶面COMS相機(jī) SI-1100S大靶面CCD相機(jī) SI-1000S深度制冷CCD相機(jī) SI-850S深度制冷CCD相機(jī) SI-800S深度制冷CCD相機(jī)

進(jìn)口短波紅外相機(jī) 夜視ICMOS相機(jī) 工業(yè)sCMOS相機(jī) 紫外相機(jī) 高分辨率天文學(xué)CCD相機(jī)

激光測(cè)距模組 激光測(cè)距探測(cè)器（APD） 激光器

TK絕對(duì)THz功率/能量計(jì) THz功率計(jì) THz時(shí)域光譜儀 THz相機(jī) THz源 THz超快探測(cè)器

長(zhǎng)波非制冷紅外熱像儀 長(zhǎng)波制冷紅外熱像儀 中波制冷紅外熱像儀

多功能動(dòng)態(tài)目標(biāo)模擬系統(tǒng) 紅外圖像目標(biāo)模擬器 激光模擬器 便攜式紅外目標(biāo)模擬器 紅外點(diǎn)源、干擾目標(biāo)模擬器 可見光目標(biāo)模擬器

多譜段激光分布測(cè)試系統(tǒng) 大口徑平行光管 全自動(dòng)定焦系統(tǒng) 紅外靈敏度測(cè)試系統(tǒng) 紅外導(dǎo)引、控制測(cè)試系統(tǒng) 告警能力探測(cè)概率測(cè)試系統(tǒng) 激光光電探測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)裝置 野外便攜式多光軸平行性校正儀 大口徑平行光管測(cè)試儀 電視紅外圖像跟蹤性能檢測(cè)系統(tǒng) 紅外光學(xué)及成像測(cè)試系統(tǒng) 便攜式整機(jī)光學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng) 激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng) 多光譜多光軸測(cè)試系統(tǒng)

光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀 相機(jī)/熱像儀/激光測(cè)試系統(tǒng) 微區(qū)拉曼/PL光譜分析儀 激光波長(zhǎng)計(jì)/激光功率計(jì)

光導(dǎo)碲鎘汞HgCdTe PC（1um-26um） 光伏碲鎘汞HgCdTe PV（0.5um-11um） 銻化銦InSb（1um-5.5um） 硫化鉛PbS（1.0um-3.5um） 砷化銦InAs（1.0um-3.8um） 銦鎵砷InGaAs（0.5um-2.6um） 鍺Ge（0.5um-1.8um） 硅Si（300nm-1100nm） 碳化硅SiC（190nm-450nm）

光電組合滑環(huán) 多通道光纖滑環(huán) 雙通道光纖滑環(huán) 微型光纖滑環(huán) 單通道光纖滑環(huán)

高精度光學(xué)元件 快速反射鏡 振鏡系列 聚焦可調(diào)鏡頭